相机怎么测光
对于测光来讲，可以将所拍摄的画面划分为多个区域，而划分的每个区域都是会进行独立测光的，然后会依此计算出整个画面的测光平均值，平均测光模式适合拍摄整个画面光线比较均匀的场景。对于点测光来讲，只需对一个点进行测光就可以了。
数码相机的测光系统一般是测定被摄对象反射回来的光亮度，也称之为反射式测光。测光方式按测光元件的安放位置不同一般可分为外测光和内测光两种方式（l）外测光：在外测光方式中，测光元件与镜头的光路是各自独立的。这种测光方式广泛应用于平视取景镜头快门照相机中，它具有足够的灵敏度和准确度。
用数码相机代替测光表
工业相机跟单反相机均只有通过红外改装才能检测el
光伏组件隐裂试验是否必须检查
光伏组件隐裂试验是必须检查。根据查询相关公开信息，电池片的核心部分是半导体PN结，在没有其它激励(例如光照、电压、温度)的条件下，其内部处于一个动态平衡状态，电子和空穴的数量相对保持稳定，如果施加电压，半导体中的内部电场将被削弱，N区的电子将会被推向P区，与P区的空穴复合(也可理解为P区的空穴被推向N区，与N区的电子复合)，复合之后以光的形式辅射出去，即电致发光，当被施加正向偏压之后，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捕捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。
晶圆怎么看隐裂还是显裂呢
晶圆隐裂还是显裂可以试下用检查灯对晶圆进行检测，可检测到1um左右的瑕疵，在检查灯的照射下，瑕疵能很好显现出来。如果是隐裂，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捕捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。如果是显裂，晶圆表面都可以目测到裂痕。
什么是光伏组件
1、什么是光伏组件隐裂？
隐裂是指电池片（组件）受到较大的机械或热应力时，可能在电池单元产生肉眼不易察觉的隐性裂纹。
根据电池片隐裂的形状，可分为5类：树状裂纹、综合型裂纹、斜裂纹、平行于主栅线、垂直于栅线和贯穿整个电池片的裂纹。
2、隐裂对光伏组件的影响
电池片产生的电流要依靠“表面的主栅线及垂直于主栅线的细栅线”搜集和导出。当隐裂导致细栅线断裂时，细栅线无法将收集的电流输送到主栅线，将会导致电池片部分甚至全部失效。
基于上述原因，我们可以看出对电池片功能影响最大的，是平行于主栅线的隐裂。根据研究结果，50%的失效片来自于平行于主栅线的隐裂。
45°倾斜裂纹的效率损失是平行于主栅线损失的1/4。
垂直于主栅线的裂纹几乎不影响细栅线，因此造成电池片失效的面积几乎为零。
相比于晶硅电池表面的栅线，薄膜电池表面整体覆盖了一层透明导电膜，所以这也是薄膜组件无隐裂的一个原因。
有研究显示，组件隐裂严重时，会导致组件功率的损失，但是损失的大小并不一定。裂纹对组件电性能的影响小，而裂片对组件功率损失非常大；老化试验，即组件在工作或非工作的情况下，温、湿度变化可能会引起电池片隐裂的加剧；组件中没有隐裂的电池片比隐裂的电池片抗老化能力强。
3、光伏组件隐裂如何检测
EL（Electroluminescence，电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。
电池片的核心部分是半导体PN结，在没有其它激励（例如光照、电压、温度）的条件下，其内部处于一个动态平衡状态，电子和空穴的数量相对保持稳定。
如果施加电压，半导体中的内部电场将被削弱，N区的电子将会被推向P区，与P区的空穴复合（也可理解为P区的空穴被推向N区，与N区的电子复合），复合之后以光的形式辅射出去，即电致发光。
当被施加正向偏压之后，晶体硅电池就会发光，波长1100nm左右，属于红外波段，肉眼观测不到。因此，在进行EL测试时，需利用CCD相机辅助捕捉这些光子，然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。
给晶硅组件施加电压后，所激发出的电子和空穴复合的数量越多，其发射出的光子也就越多，所测得的EL图像也就越亮；如果有的区域EL图像比较暗，说明该处产生的电子和空穴数量较少，代表该处存在缺陷；如果有的区域完全是暗的，代表该处没有发生电子和空穴的复合，也或者是所发光被其它障碍所遮挡，无法检测到信号。
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